第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2025)

会议时间：
2025年5月23日-25日

会议地点：
中国西安

检索机构：
EI,Scopus

欢迎来到 MVAID 2025 ！

2025第四届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议

我们非常高兴地邀请您出席定于 2025 年 5 月 23 日至 35 日在中国习举行的第四届机器视觉、自动识别和检测国际会议（MVAID 2025）。MVAID 2025 旨在为从事机器视觉、自动识别和检测前沿领域的全球学者和工程师培养一个充满活力的平台。

作为全球科技创新大趋势的前沿，中国不断努力建立日益开放的科学、技术和创新（STI）环境，促进广泛的学术合作，并培育一个充满活力的创新社区，使所有利益相关者受益。这些努力不仅有助于全球化，也促进了共同体的创建。

MVAID 会议每年举行一次，旨在召集来自世界各地的教授、研究人员、学者和行业先驱。MVAID 是展示和交流理论和工业领域过去经验、新进展和研究成果的重要平台。会议热烈欢迎促进全球教育工作者和研究人员之间思想交流和理性讨论的贡献。会议组委会很高兴邀请潜在作者向 MVAID 2025 提交他们的原始手稿。

Publlication

所有提交给 MVAID 2025 的论文全文将发送给至少两名审稿人，并根据原创性、技术或研究内容或深度、正确性、与会议的相关性、贡献和可读性进行评估。所有被接受和注册的论文将由 SPIE - 国际光学工程学会（ISSN： 0277-786X）出版，这些论文将提交给 EI Compendex， Scopus 进行索引。

征文

2025年第 4 届机器视觉、自动识别和检测国际会议（MVAID 2025）为学者、研究人员和工程师提供了良好的平台，让他们就机器视觉、自动识别和检测的各个方面会面和交流创新想法和信息。我们很高兴邀请您参加 MVAID 2025。

提交的主题包括但不限于：

◕ 机器视觉

·光学成像

·图像捕获

·光源系统

·数字图像处理

·传感器

·主动视觉

·3D 视觉

·人工智能